| Назив | Скенирајућа микроскопија у нанонауци и нанотехнологији |
|---|
| Акроним | 19Д061СМНН |
|---|
| Студијски програм | Електротехника и рачунарство |
|---|
| Модул | модул Наноелектроника и фотоника |
|---|
| Тип студија | докторске академске студије |
|---|
| Наставник (предавач) | |
|---|
| Наставник/сарадник (вежбе) | |
|---|
| Наставник/сарадник (ДОН) | |
|---|
| Број ЕСПБ | 9.0 | Статус предмета | изборни |
|---|
| Условљност другим предметима | - |
|---|
| Циљеви изучавања предмета | Упознавање студената са техникама скенирајуће микроскопије на бази атомских сила, скенирајуће тунелске микроскопије и скeнирајуће електронске микроскопије. Упознавање са методама за топографско осликавање површина и карактеризацију њихових физичких особина (механичке, електричне, опто-електричне, фероелектричне, магнетске) на наноскали. |
|---|
| Исходи учења (стечена знања) | Развијање способности студената да технике скенирајуће микроскопије користе у научном раду у циљу истраживања различитих наноструктура и материјала као што су дводимензионални материјали, танки филмови, хетероструктуре, нанокристали, квантне тачке, наночестице, итд. |
|---|
